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1.揮發(fā)物再冷凝的影響。樣品熱分析過程中出現(xiàn)的揮發(fā)物有可能在梅特勒電子天平ME4002E的其他部分凝結(jié)，不僅污染了設(shè)備，還降低了測定的失重量，溫度進一步上升后，這些凝結(jié)物有可能再次揮發(fā)出假的失重，使TG曲線變形，測定不正確，不能重復(fù)。為了解決這個問題，可以適當(dāng)?shù)叵蛎诽乩针娮犹炱組E4002E通過適量的氣體。
2.浮力的影響。電子天平在熱區(qū)，其部件在升溫過程中排出空氣的重量不斷減少，即浮力減少，即樣品的表觀重量增加。梅特勒電子天平ME4002E樣品周圍的氣氛變輕會上升，形成上升的熱氣流，作用相當(dāng)于電子天平減量，這被稱為對流影響。
3.坩堝的影響。熱分析用的坩堝(或稱試樣杯、試樣皿)材質(zhì)，要求對試樣、中間產(chǎn)物、最終產(chǎn)物和氣氛都是惰性的，即不能有反應(yīng)活性，也不能有催化活性。穴位的大小、重量和幾何形狀也會影響梅特勒電子天平ME4002E。
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